文章信息/Info

Title:

Neutron Reflectometry and Its Application in Studies of Thin Films

作者:

李天富; 陳東風(fēng); 劉蘊(yùn)韜��

中國(guó)原子能科學(xué)研究院 核物理研究所

Author(s):

LI Tianfu; CHEN Dongfeng; LIU Yuntao

Department of Nuclear Physics,China Institute of Atomic Energy

關(guān)鍵詞:

中子反射; 薄膜材料; 研究與應(yīng)用��

文獻(xiàn)標(biāo)志碼:

A

摘要:

中子反射技術(shù)作為薄膜材料結(jié)構(gòu)和性能表征手段之一，目前得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是在磁性薄膜和有機(jī)薄膜等研究領(lǐng)域的某些方面更有其不可替代的作用。將根據(jù)中子反射技術(shù)的特點(diǎn)，簡(jiǎn)單介紹其基本原理和實(shí)驗(yàn)技術(shù)方法，以及在某些方面的研究?jī)?yōu)勢(shì)，并列舉一些在聚合物、生物、磁性等領(lǐng)域的典型應(yīng)用實(shí)例，為想要了解和使用該技術(shù)的科研人員提供有益的幫助